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Résumé de la communication
De nos jours, plusieurs applications nécessitent la focalisation d’ondes électromagnétiques en des taches focales extrêmement petites, notamment en recherche biomédicale. La tache focale est limitée par la diffraction, donc par la longueur d’onde. Malheureusement, les lentilles conventionnelles ne fonctionnent pas pour les courtes longueurs d’onde. Le cas particulier des rayons X durs (> 8 keV, < 0,15 nm) est d’autant plus complexe qu’ils interagissent peu avec la matière. À notre connaissance, les plus petites résolutions obtenues pour les rayons X durs sont de 25 nm pour des énergies de 15 keV et 19,5 keV [1, 2]. Notre système est composé de trois ouvertures circulaires de même rayon et il dépasse ces résolutions d’un facteur cent. La méthode de focalisation décrite ici se base sur des recherches précédemment effectuées pour les micro-ondes [3]. Nous appliquons ces géométries aux rayons X et proposons des solutions numériques. Des résolutions sous-nanomètre ont été prédites (< 0,2 nm de 15 keV à 19,5 keV), ainsi qu’un fort gain (> 15 fois l’intensité d’un faisceau propagé dans le vide) et une forte concentration de puissance (> 8 % de l’énergie du plan focal est dans la tache focale). Ces résultats sont significatifs pour des applications futures en nanoimagerie et en microfabrication. [1] H. C. Kang et al, Phys. Rev. Lett. 96, 127401 (2006) [2] H. Mimura et al, Appl. Phys. Lett. 90 (2007) [3] J.W.Y. Lit, R. Boulay et R. Tremblay, Opt. Comm. 1, 280–282 (1970)
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