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Résumé de la communication
Dans les vingt dernières années, plusieurs groupes ont publié des données montrant la présence d'effet de proximité, pour des jonctions Josephson fabriquées avec des cuprates dopés aux trous. Suite à ces travaux, nous pouvons nous demander s'il est possible de mesurer un effet de proximité similaire dans des jonctions à base de cuprates dopés aux électrons. Dans l'affirmative, on pourrait vérifier comment la nature de la barrière vient-elle influencer la force du couplage Josephson. Pour répondre à ces questions, nous avons étudié plusieurs séries de jonctions Josephson en rampe entièrement fabriquées à partir d'un cuprate dopés aux électrons. Pour les électrodes supraconductrices, nous avons utilisé le composé possédant la température critique la plus élevée et nous avons étudié des jonctions possédant des barrières à différents dopages. Pour pouvoir bien évaluer l'effet de la nature de la barrière, nous avons choisi des dopages qui couvrent tout le diagramme de phase: AF métallique (sous-dopée), AF isolante (non dopée) et paramagnétique métallique (sur-dopée). Nos résultats permettent de confirmer la présence d'effet de proximité pour toutes les barrières étudiées. Ainsi, le mécanisme qui entraîne cet effet n'a apparemment rien à voir avec le magnétisme bien que ce dernier puisse en principe le favoriser ou au contraire le supprimer.
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