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Résumé de la communication
Les électrons de basse énergie (EBE; <10 eV) sont les plus abondantes espèces générées lors de la radiation à forte énergie dans les cellules vivantes. Ces électrons énergétiques engendrent des dommages à l’ADN tels des modifications des bases et des casseurs. Les EBEs induisent la modification des composants de l’ADN par un processus d’attachement d’électrons dissociatifs (AED) qui induisent les cassures de liaisons phosphodiester-sucre (ex. C-O) et sucre-base (ex. N-C). Pour mieux comprendre le mécanisme de dommage, nous avons effectué des expériences supplémentaires avec la thymidine et de courts oligonucléotides. Les échantillons étaient irradiés à l’état solide par un laser à électron monoénergétique et ont ensuite été analysés par HPLC et spectrométrie de masse. La majorité des produits modifiés de l’oligonucléotide TpTpT (851 Da) ont été observés sur le chromatogramme HPLC entre l’élution de TpT et TpTpT. De ces produits, trois modifications ayant une masse de 853 Da ont été identifiées par comparaison avec les composés authentiques de synthèse comme étant XpTpT, TpXpT, TpTpX où X=dihydrothymidine. Les autres produits ont une masse de 849 Da suggérant que leur structure provient de la perte de deux atomes d’hydrogènes et de la formation d’une liaison entre deux thymines sur le même oligonucléotide. La structure des produits et des expériences de marquage indiquent que l’ion hydride formé par AED est impliqué dans le mécanisme de formation de bases modifiées.
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