Colloque

Analyse de traces d'éléments par excitation de rayons-X au moyen de particules chargées

C. Cardinal

N. Marquardt

J. L'Ecuyber

P. Depommier

P. Lecoq

Membre a labase

C. Cardinal

Résumé du colloque

Soucieux de mettre les ressources techniques de notre laboratoire à la disposition d'autres disciplines, nous y avons mis au point une méthode d'analyse de traces à la fois puissante, rapide et économique. L'irradiation de l'échantillon par un faisceau de particules chargées permet d'observer les rayons-X caractéristiques des éléments présents. On peut ainsi détecter en quelques minutes avec une sensibilité très grande (jusqu'à 10-8 partie par million) et à peu près uniforme tous les éléments plus lourds que l'aluminium. La petite quantité d'échantillon nécessaire à l'analyse rend la méthode très attrayante pour un grand nombre de disciplines.

Contexte

Section :

Physique

Thème du colloque :

Physique

Hôte : École polytechnique de Montréal

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