Colloque

Analyse quantitative d'éléments légers à la surface de matériaux lourds par recul élastique et application à l'étude de la diffusion dans les solides

Christian Moreau

Emile J. Knystautas

Membre a labase

Christian Moreau

Résumé du colloque

Dans la technique d'analyse par recul élastique, un faisceau d'ions lourds de haute énergie (15 MeV et plus) frappe l'échantillon étudié. Les particules arrachées de l'échantillon par collision élastique sont détectées et leur énergie est mesurée. Connaissant le pouvoir d'arrêt du matériau à l'étude, la concentration en fonction de la profondeur peut alors être obtenue pour les éléments légers de l'hydrogène à l'oxygène. Avec un faisceau incident de 2°Ne à 18 MeV des concentrations de l'ordre de 100 ppm en Li dans des échantillons de Al ont été mesurées. La sensibilité en surface permet des mesures de densité surfaciques aussi faibles que 5×10³ at.cm⁻² pour le Li. La précision absolue des mesures est évaluée à 10-20% et la résolution en profondeur est de l'ordre de 25 nm. Cette technique d'analyse a été utilisée pour suivre l'évolution, à diverses températures, de la concentration de Li implanté dans l'aluminium et ainsi déterminer le coefficient de diffusion du Li. La ségrégation du Li à la surface de l'échantillon a aussi été étudiée.

Contexte

Section :

Physique

Thème du colloque :

Physique

Hôte : Université Laval

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