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Résumé de la communication
Cette présentation portera sur la caractérisation des nanomatériaux en microscopie électronique à haute résolution spatiale, tant en balayage qu’en transmission avec un microscope à effet de champs Hitachi SU-8000. Ce microscope possède 5 détecteurs d’électrons (1 upper pour les secondaires, un top pour les rétro à fort angle, un lower, un retro 5 quadrants et un detecteur d’électrons transmis) ainsi qu’un détecteur EDS SDD de rayons-x et un détecteur EBSD. CE microscope, qui à une résolution spatiale de 0.5 nm à 30 keV, est un outil de chois pour caractériser les nanomatériaux. Des exemples pour la caractérisation de fins précipités d’alliage d’aluminium, de diverses particules nanométriques sur des nanotubes de carbone, des nano composites et d’autres nanomatériaux d’intérêts seront présentés.
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