pen icon Colloque
quote

Caractérisation des supraconducteurs à haute température en microscopie électronique en transmission à haute résolution

Martin Simoneau
MS

Membre a labase

Martin Simoneau

Résumé du colloque

Les propriétés supraconductrices des nouveaux oxydes supraconducteurs sont grandement influencées par l'arrangement atomique local du matériau. La technique de microscopie électronique en transmission à haute résolution s'est avérée utile dans une étude de l'analyse de cet arrangement atomique et des défauts structuraux des supraconducteurs céramiques. Nous présentons la méthodologie nécessaire à l'obtention et l'analyse d'images d'atomes dans le cas du supraconducteur Y1Ba2Cu3O7-δ ainsi que quelques images structurales montrant l'effet d'un broyage à haute énergie sur la microstructure fine.

Contexte

Section :
Caractérisation microscopique des matériaux
news icon Thème du colloque :
Caractérisation microscopique des matériaux
host icon Hôte : Université de Sherbrooke

Découvrez d'autres communications scientifiques

news icon

Titre du colloque :

Caractérisation microscopique des matériaux
Microscopie électronique en transmission de couches de GaAs déposées par transport réactif à courte…
N. Guerton
Évaluation critique et développement des spectrométries rayons X et des pertes d'énergie des électr…
P. Hovington
Métallographie : chance ou savoir faire
Jacques Boutin
Voir tous les contenus de ce colloque

Autres communications du même congressiste :

news icon

Thème du colloque :

Caractérisation microscopique des matériaux
Contrôle de l'équilibre suite à une perturbation et la réintégration sensorielle chez des jeunes ad…
Jean-Philippe Pialasse
Corrections visuo-manuelles et régulations posturales
François Bonnetblanc
Caractérisation des supraconducteurs à haute température en microscopie électronique en transmissio…
Martin Simoneau