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Caractérisation des supraconducteurs à haute température en microscopie électronique en transmission à haute résolution

Martin Simoneau
Gilles L'Espérance
MS

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Martin Simoneau

Résumé du colloque

Les propriétés supraconductrices des nouveaux oxydes supraconducteurs sont grandement influencées par l'arrangement atomique local du matériau. La technique de microscopie électronique en transmission à haute résolution s'est avérée très utile dans l'étude et l'analyse de cet arrangement atomique et des défauts structuraux des supraconducteurs céramiques. Nous démontrerons la méthodologie nécessaire à l'obtention d'analyses d'images d'atomes dans le cas du supraconducteur YBa2Cu3O7-x. De plus, des images structurales montrant l'effet d'un broyage à haute énergie suivi d'une recristallisation contrôlée sur la microstructure fine seront présentées.

Contexte

Section :
Génie des matériaux et métallurgie
news icon Thème du colloque :
Génie des matériaux et métallurgie
host icon Hôte : Université de Montréal

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Titre du colloque :

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