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Caractérisation par diffusion multiple de l'EXAFS de tamis mésoporeux contenant des ions métalliques

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François Beland

Résumé du colloque

Due à leur surface spécifique élevée (~1000 m2/g), les matériaux siliciques mésoporeux de la famille des M41S sont utilisés comme support d’ions métalliques en vue d’applications catalytiques. Leurs pores de diamètre ajustables de 20 à 80 leur confère des propriétés de tamis moléculaire modulable. Le contrôle est beaucoup plus délicat à suivre et à réaliser quand il s’agit de savoir si les ions métalliques sont soit inclus dans les murs soit greffés à la surface ou agglomérés dans les canaux sous forme d’oxyde. L’étude de leur environnement local est nécessaire pour caractériser et quantifier les divers sites métalliques et améliorer la synthèse des catalyseurs. Il faut pour cela déterminer la nature, le nombre et les distances de leur premier et deuxième voisin. En d’autres termes, il s’agit de caractériser les ponts M-O-X ou X= Si, H ou M. La spectroscopie d'absorption X (EXAFS: Extended X-Ray Absorption Fine Structure) combiné à l’analyse de la diffusion multiple par le programme FEFF6 a été mise en oeuvre pour l'étude du Ti, V, Fe et Co dans la structure des MCM-41 et 48. La distribution des sites métalliques dans les MCM est comparé pour différentes voies de synthèse.

Contexte

news icon Thème du colloque :
Chimie physique et des surfaces
host icon Hôte : Université Laval

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Titre du colloque :

Chimie physique et des surfaces

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