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Comparaison du PIXE et XRF dans la détermination du soufre

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Jean-Pierre Paré

Résumé du colloque

L'intérêt récent pour le soufre des précipitations atmosphériques a donné lieu à de nombreuses analyses de fluorescence-X induite par protons (PIXE, ex: Lannefors et Carlsson, X-Ray Spectr. 12 (1983) 138; Landsberger et al., Env. Sci. Technol. 17 (1983) 542). Une autre école de pensée affirme que le soufre, surtout celui des composés organiques, est trop volatile pour que les résultats de PIXE puissent représenter la concentration véritable de cet élément (ex: Zee et al., Am. J. Enol. Vitic. 32 (1981) 931; Gramon et al., Commun. Soil Sci. Plant Anal. 12 (1981) 1181). Gould et Singh ont montré que pour le soufre des échantillons le PIXE est un peu plus sensible que la fluorescence-X induite par photon (XRF) mais la limite de détection est aussi plus élevée dû au bruit stéranglin. Réduire ce dernier en diminuant l'énergie de bombardement augmente l'énergie déposée dans l'échantillon pour maintenir le même taux de comptage. Nous avons étudié les mêmes échantillons minces et épais par PIXE et XRF, et vérifié l'influence de la température, du vide, de l'énergie de bombardement et de la densité de faisceau. Nous recommandons fortement la méthode XRF à excitation par source 55Fe annulaire et suppression d'argon sur PIXE pour l'analyse de soufre.

Contexte

Section :
Environnement
news icon Thème du colloque :
Environnement
host icon Hôte : Université du Québec à Chicoutimi

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Titre du colloque :

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