Colloque

Développement d'outils pour la microanalyse par spectrométrie des rayons X d'éléments légers

Pierre Hovington

Gilles L'Espérance

Michel Rigaud

Membre a labase

Pierre Hovington

Résumé du colloque

L'intérêt grandissant pour la localisation d'éléments légers dans les matériaux très avancés tels les matériaux résistants à hautes températures et les céramiques spécialisées a intensifié les besoins pour une microanalyse quantitative et locale de ces éléments. La microscopie électronique couplée à la spectrométrie des rayons X s'est avérée dans ce contexte un outil des plus puissants. Cependant, la quantification des éléments légers soulève beaucoup plus de problèmes que la quantification des éléments plus lourds. Tous les problèmes de détection et de quantification des rayons X de faible énergie des éléments légers ont pour effet de modifier le spectre généré, ce qui entraîne l'utilisation de méthodes de traitements de données plus sophistiquées pour interpréter judicieusement le spectre détecté. Les traitements à ce niveau se situent au niveau de la déconvolution des raies qu'au niveau de l'interprétation des intensités obtenues. Le but de cet exposé est d'en démontrer les problèmes associés à la détection et aux traitements des rayons X de faible énergie et de proposer des outils de traitements qui permettent d'envisager l'étude quantitative locale d'éléments légers.

Contexte

Section :

Génie des matériaux et métallurgie

Thème du colloque :

Génie des matériaux et métallurgie

Hôte : Université de Montréal

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Titre du colloque :

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