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Résumé du colloque
La canalisation des ions par la structure cristalline a pu être mise en évidence par l'implantation d'hydrogène à différents angles d'incidence dans le silicium monocristallin et polycristallin. Les parcours résultants sont mesurés à l'aide de la technique de détection des reculs élastiques (DRE) avec filtre ExB. En utilisant des monocristaux dont la normale est orientée selon les axes <110>, <111> et <100>, nous avons observé une décroissance du parcours pour ces trois directions respectivement, tandis que le silicium polycristallin a donné une valeur intermédiaire. Dans le cas <110>, en variant l'énergie (0.5 à 2 keV) nous avons mesuré un parcours des ions de silicium canalisé et aléatoire, nos mesures montrent que la région où les parcours canalisés versus aléatoire se situent à 1 ± 0.5 keV et vaut ~2 à 2.0 keV. Ceci est indépendant de l'angle d'incidence mais dépendant de l'énergie d'incidence à des énergies inférieures à 0.5 keV. Enfin, nous comparons ces résultats avec ceux de simulation Monte Carlo MARLOWE (Oak Ridge), TRIM (IBM), et BABOUIN (INRS).
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