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Résumé du colloque
Dans le cadre d'un programme du CNRC de préparation de matériaux de référence, la spectrométrie de masse à plasma ICP a été utilisée pour déterminer leur contenu en éléments traces. Cette technique, alliée à l'excellente limite de détection caractéristique de la spectrométrie de masse, a la grande facilité d'introduction d'échantillons aqueux du plasma ICP. Toutefois, étant encore toute nouvelle (les premiers exemples commerciaux n'ont fait leur apparition qu'en 1984), ce n'est que récemment qu'on s'est aperçu qu'elle est beaucoup plus sensible à la présence de ces et d'autres éléments que la spectrométrie d'émission à plasma ICP. Nous discutons comment ces éléments influencent l'effet que la présence de divers éléments concurrents sur le signal de métaux présents à l'état de traces, et des mesures à prendre (en particulier, la standardisation interne pour minimiser cet effet).
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