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Évaluation critique et développement des spectrométries rayons X et des pertes d'énergie des électrons transmis pour l'analyse des éléments légers en M.E.T.

P. Hovington
G. Botton
G. L’Espérance
PH

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P. Hovington

Résumé du colloque

Le document présente une évaluation critique des techniques de spectrométrie par rayons X (EDS) et des pertes d'énergie des électrons transmis (EELS) pour l'analyse des éléments légers en microscopie électronique en transmission (M.E.T.). Il décrit et compare les deux techniques, en soulignant leurs avantages et inconvénients respectifs. Les défis rencontrés lors de l'utilisation de ces méthodes sont discutés, ainsi que les solutions développées par le laboratoire pour surmonter ces obstacles. Les avantages de l'EDS incluent une analyse rapide et simple, tandis que ses inconvénients concernent l'absorption des rayons X de faibles énergies et le chevauchement des raies. Les difficultés spécifiques incluent un faible taux de comptage et des contributions instrumentales augmentant le bruit de fond. Pour l'EELS, les avantages sont la résolution spatiale et la sensibilité, mais elle est limitée par l'épaisseur de la région d'analyse et l'effet d'épaisseur sur la quantification. Les difficultés incluent le traitement statistique des intensités nettes et du rapport signal sur bruit (SNR).

Contexte

Section :
Caractérisation microscopique des matériaux
news icon Thème du colloque :
Caractérisation microscopique des matériaux
host icon Hôte : Université de Sherbrooke

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Titre du colloque :

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