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Résumé du colloque
Le test de conformité est réalisé grâce à l'étude du séquencement des interactions de l'implantation sous test afin d'en vérifier la validité en accord avec la norme de référence. Les suites de tests sont engendrées pour chaque protocole à partir du standard. Elles sont ensuite utilisées pour la certification de la conformité des implantations. Les suites de tests devraient être en mesure de détecter un nombre maximal d'erreurs d'opération du protocole implanté. On parle alors de couverture de fautes: caractéristique très importante des suites de tests. Plus la couverture de fautes est grande, plus les implantations passant le test avec succès ont une grande probabilité d'être conformes à la norme de référence. TTCN est un langage standard pour la description abstraite des tests de conformité. Nous proposons ici un canevas d'utilisation des tests écrits en TTCN pour le calcul de la couverture de fautes. En effet, une suite TTCN ne peut être utilisée entièrement du moment qu'elle est constituée de plusieurs branches amenant à des verdicts différents. Nous effectuons alors une séparation des branches TTCN selon les verdicts associés et procédons ensuite à l'extraction de celles qui sont nécessaires pour le calcul de la couverture de fautes. A l'issue de notre projet, nous avons développé un outil qui réalise l'analyse des tests écrits en TTCN pour en extraire des séquences d'exécutions nécessaires au calcul de la couverture. Un sous-ensemble des tests pour le LAP-D écrits en TTCN a été utilisé comme expérience pour le calcul de la couverture de fautes de tests écrits en TTCN. L'expérience effectuée avec le protocole LAP-D a été satisfaisante dans celui qui nous a permis d'identifier certains problèmes lors du calcul de la couverture de fautes de suites de tests lorsqu'elles sont écrites en TTCN.
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