Colloque

Extraction de géons d'une image d'illuminance par le biais d'une modélisation tridimensionnelle de composantes volumétriques projetées de pièces manufacturées

Daniel Lavigne

Richard Lepage

Membre a labase

Daniel Lavigne

Résumé du colloque

L'inspection automatisée est une étape importante lors du procédé global de fabrication de pièces manufacturées, étant à la base même du processus permettant d'assurer la qualité des pièces ainsi confectionnées. Cette inspection est effectuée par des systèmes de vision artificielle, utilisant les méthodologies inhérentes aux traitement d'images à l'aide de réseaux neuroniques artificiels. Ces systèmes de vision capturent l'image 2D de la pièce tridimensionnelle manufacturée, pour ensuite identifier correctement cette dernière et être en mesure de procéder à une analyse subséquente de la qualité d'usinage de cette pièce. Ce présent travail consiste en la modélisation des composantes volumétriques projetées de ces pièces tridimensionnelles, les géons. Ces derniers sont issus de la théorie de reconnaissance par parties de Biederman, qui constitue une proposition plausible et complète des mécanismes sous-jacents à la perception visuelle humaine, dans le cadre du processus de reconnaissance de formes inhérent à l'identification d'objets usuels. Suite à une modélisation des géons d'une pièce manufacturée donnée, celle-ci pourra être identifiée et assujettie aux différents modules d'inspection du système de vision artificielle. L'extraction de ces géons s'avère ainsi une prémisse élémentaire, requise pour l'obtention de pièces manufacturées de qualité.

Contexte

Section :

Génie électrique

Thème du colloque :

Génie électrique

Hôte : Université Laval

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Titre du colloque :

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