Colloque

Génération de tests et simulation automatique de fautes dans les circuits logiques à l'aide des expressions de Poage

G. Custeau

J.-M. St-Pierre

J. Goulet

H. Théberge

Membre a labase

G. Custeau

Résumé du colloque

Les expressions de Poage permettent de trouver tous les tests qui détectent une faute simple ou multiple dans un circuit logique combinatoire ou séquentiel. Le but de cette communication est de montrer comment ces expressions peuvent être utilisées pour faire une étude diagnostique complète d'un circuit logique, et de présenter une implantation simulée d'un générateur de tests et d'un simulateur de fautes basés sur les expressions de Poage. Nous exposerons aussi des projets de développements futurs et comparerons les possibilités d'un tel système à d'autres algorithmes de génération de tests et simulateurs de fautes.

Contexte

Section :

Informatique

Thème du colloque :

Informatique

Hôte : Université Laval

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