Colloque

Identification des plagioclases par diffraction des rayons X

Fernand Claisse

Jean Girault

Membre a labase

Fernand Claisse

Résumé du colloque

Une méthode ayant pour résultat de donner la composition Ab-An d'un plagioclase a été développée. Elle est basée sur le principe que les plagioclases sont des solutions solides d'albite et d'anorthite et que, dès lors, leurs spectres de diffraction des rayons X varient régulièrement suivant la composition. Au lieu de mesurer la position absolue des raies de diffraction comme cela se fait d'ordinaire, on mesure avec précision la séparation de deux raies voisines. De cette manière plusieurs erreurs sont éliminées, et les courbes de calibration peuvent servir dans d'autres laboratoires. Les spectres de rayons X ont été faits sur des échantillons de plagioclases dont la composition avait été préalablement déterminée avec précision par des méthodes optiques.

Contexte

Section :

Géologie et minéralogie

Thème du colloque :

Géologie et minéralogie

Responsables :

J.-W. Laverdière Marcel Tiphane

Hôte : Université de Montréal

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