Colloque

La caractérisation des surfaces par l'étude des structures fines en diffraction électronique

J.-M. Baribeau

J.-D. Carette

Membre a labase

J.-M. Baribeau

Résumé du colloque

La mesure par spectrométrie électronique à haute résolution de l'intensité d'un faisceau électronique réfléchi sur les surfaces monocristallines révèle souvent l'existence de structures fines qui résultent d'un mécanisme d'interférence et non d'un processus de diffraction électronique. Notre étude des structures fines sur les faces (110) et (001) du tungstène démontre que la présence de ce phénomène peut contribuer de façon tangible à la caractérisation de ces surfaces. L'analyse théorique des profils mesurés sur des substrats atomiquement propres permet de déterminer de façon précise la forme de leur barrière de potentiel de surface, paramètre essentiel en physique des surfaces. Nos travaux sur ces mêmes surfaces contaminées par des gaz simples tels que O2, H2 et N2 révèlent que les structures fines sont très sensibles à l'état de la surface. L'évolution des profils qui accompagne l'adsorption nous renseigne sur la structure de l'adsorbat et sur l'influence qu'a ce dernier sur la barrière de surface. La mesure des structures fines devrait s'avérer également fort utile pour l'étude des changements de phase d'un adsorbat et des phénomènes de reconstruction.

Contexte

Section :

Physique

Thème du colloque :

Physique

Hôte : Université du Québec à Trois-Rivières

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