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La quantification des analyses chimiques par émission de rayons X en microscopie électronique en employant la méthode de Monte-Carlo

Raynald Gauvin
Gilles Lespérance
Sylvain St-Laurent
RG

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Raynald Gauvin

Résumé du colloque

Dans le cadre de cet exposé, la méthode de Monte-Carlo permettant de simuler la trajectoire des électrons pour quantifier les analyses chimiques par émission de rayons X en microscopie électronique sera décrite en détail. Plus précisément, une nouvelle procédure pour quantifier chimiquement des inclusions sphériques par émission de rayons X au M.E.B. sera présentée. De plus, l'effet des électrons secondaires sur les facteurs Kα de "Cliff-Lorimer" au M.E.T. ainsi que sur la résolution spatiale sera expliqué. Finalement, des calculs de la fonction de génération des rayons X au M.E.T. seront présentés ainsi qu'une nouvelle correction d'absorption.

Contexte

Section :
Caractérisation microscopique des matériaux
news icon Thème du colloque :
Caractérisation microscopique des matériaux
host icon Hôte : Université de Sherbrooke

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