Colloque

L’application de la microscopie électronique analytique pour l’étude de la microstructure de revêtements de TiB2 Fe synthétisés par projection plasma

G. Botton

S. Dallaire

G. L’Espérance

Membre a labase

G. Botton

Résumé du colloque

Des revêtements céramiques constitués de particules fines de TiB2 dispersées dans une matrice de fer ont été synthétisés par projection par plasma déviée (Floyd, J. et al. 1989). Ce procédé est devenu une base d’exploitation industrielle des dépôts de revêtements. De tels revêtements sont épais et denses et leur microstructure a été analysée par microscopie électronique analytique et par microscopie électronique de transmission en transmission entreprise. La finesse et en particulier de ces éléments fins dispersés dans la matrice de fer ont été étudiées par la formation de pertes d’énergie micro-diffraction a permis la localisation des particules de TiB2. Les modes hybrides d’observation permettent une illumination incidente conjuguée furent également utilisées pour caractériser de façon dynamique la taille des grains de TiB2 et de Fe. Les résultats montrent une microstructure des dépôts qui est constituée de particules fines (10-700 nm) de TiB2 dans une matrice principalement de Fe et de FeTi. La finesse des particules de TiB2 explique probablement la bonne résistance à l’usure des revêtements.

Contexte

Section :

(Les) Céramiques avancées des années 1990

Thème du colloque :

(Les) Céramiques avancées des années 1990

Hôte : Université Laval

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Titre du colloque :

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