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Résumé du colloque
Il est possible de différencier par méthode photoacoustique l'absorption d'une couche mince déposée sur un substrat de l'absorption de ce substrat. Nous obtenons ce résultat en éclairant l'échantillon (couche mince + substrat) à analyser avec une onde lumineuse stationnaire de demi-longueur d'onde supérieure à l'épaisseur de la couche. En déplaçant l'onde stationnaire, l'amplitude du signal photoacoustique dû à l'absorption de la couche mince, est modulée à la fréquence correspondant à l'apparition des nœuds et des ventres de l'onde stationnaire sur la couche mince. Le signal dû à l'absorption de volume du substrat reste au contraire constant. Des calculs théoriques ont été faits. Des résultats ont été obtenus avec une couche mince d'hexaméthyldisiloxane (CH3Si)2O de 200 Å d'épaisseur, déposée sur une lame de quartz en coin. Le laser utilisé est un laser He-Ne à 3.39μm dont le rayonnement est absorbé par les liaisons CH de l'hexaméthyldisiloxane. Le spectrophore est placé dans la cavité résonnante du laser. Les résultats expérimentaux confirment la théorie et les diagrammes photoacoustiques sont différents. Cette méthode peut être appliquée à la mesure de l'absorption des couches minces d'un miroir diélectrique en vue de prévoir les dommages causés à ces miroirs par des lasers de puissance.
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