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Mesures de contraintes dans les fibres et composants tout-fibre

MF

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Mathieu Faucher

Résumé du colloque

La connaissance fondamentale de la distribution des contraintes dans une fibre ou un composant optique est d'un intérêt certain pour le développement de dispositifs tout-fibre de plus en plus performants. Améliorer la dépendance en polarisation et la fiabilité d'un dispositif ou mieux comprendre le rôle joué par les contraintes internes des fibres dans l'inscription de réseaux de Bragg ne sont là que quelques exemples où la caractérisation des "stress" devient indispensable. Pour ces raisons, nous avons développé un système de mesure optique non destructif pour obtenir la distribution des contraintes dans des fibres et des composants. Le système mesure les retards de phases d'une lumière polarisée linéairement qui traverse transversalement notre échantillon. Nous utilisons ensuite les propriétés élasto-optiques pour rattacher la biréfringence mesurée aux contraintes internes. La reconstruction des contraintes non symétriques est possible lorsqu'on mesure l'échantillon sous plusieurs angles de projection. L'algorithme de reconstruction est alors similaire à une tomographie. La sensibilité du système doit être de l'ordre du miliradian sur le retard de phase mesuré tandis que la résolution spatiale doit permettre de voir des effets dans le cœur des fibres de télécommunication standards et se situer proche du micromètre. Cette précision est atteinte en utilisant un modulateur de phase (cellule de Pockels) et une caméra CCD. Ces 2 dispositifs permettent d'éliminer le besoin d'avoir des pièces mobiles durant les mesures comparativement au polariscope traditionnel. Nous présenterons le montage et quelques résultats de distributions de contraintes pour des expériences présentement en cours (ex. : fusion entre deux fibres, réseau de Bragg à long pas, fibre effilée, fibre à maintien de polarisation, etc.).

Contexte

news icon Thème du colloque :
Optique guidée et photonique 7
host icon Hôte : Université Laval

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Titre du colloque :

Optique guidée et photonique 7

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