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Résumé du colloque
L'ellipsométrie est une technique optique non destructive qui permet entre autres, de calculer les changements d'épaisseur et d'indices de réfraction d'une monocouche. Dans cette perspective, nous avons construit et mis au point un ellipsomètre. Une lumière polarisée elliptiquement est réfléchie sur un échantillon. L'état de polarisation de la lumière réfléchie est analysé par un prisme suivi d'un photomultiplicateur. Les mesures permettent de calculer le retard relatif de phase ainsi que le rapport relatif d'amplitude des composantes parallèles et perpendiculaires au plan d'incidence. Ces deux paramètres sont interprétés en termes des propriétés de la monocouche.
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