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Résumé du colloque
Le but de cette communication est de présenter les résultats actuels de notre étude sur les modifications possibles de la structure cristallographique de la glace déposée sur un conducteur suivant que ce dernier est soumis ou non à la haute tension. Les échantillons de glace spéciale sont produits aux laboratoires de la Chaire industrielle CIGELE à Chicoutimi, sur des conducteurs d'une dizaine de centimètres de long et quelques millimètres de diamètre, avec des tensions électriques négatives et positives allant jusqu'à 22KV. Ces échantillons de glace, formés à partir d'eau lourde, sont réduits en poudre et, pour chacun d'eux, les diagrammes de diffraction neutronique sont obtenus pour différentes températures au Centre d'Etudes Nucléaires de Chalk River en Ontario. Le raffinement de la structure cristallographique est alors réalisé au Centre de Chalk River et au Laboratoire d'Instrumentation et de Matériaux de l'Université de Savoie à Annecy en France. Les effets du champ électrique et de la température sur les paramètres cristallins de la glace sont présentés et une interprétation est donnée à l'aide d'un modèle phénoménologique. Bien que les effets obtenus soient très faibles, ils semblent reproductibles et un lien peut être établi entre eux et la présence des défauts dans la glace.
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