Colloque

Montage automatisé de caractérisation de la région de charge d'espace d'une jonction métal-semi-conducteur

Camil Cyr

Robert W. Cochrane

Membre a labase

Camil Cyr

Résumé du colloque

Une grande partie des propriétés électro-optiques des semiconducteurs est déterminée par les états situés entre la bande de valence et la bande de conduction. À l'interface d'une jonction métal-semiconducteur, ces états créent une région de charge d'espace dans le semiconducteur. Un montage automatisé de caractérisation de cette région a été mis en opération pour les semiconducteurs amorphes. Il permet des mesures de courants et de capacités en fonction de paramètres tels la polarisation, la fréquence, la température et le temps.

Contexte

Section :

Physique

Thème du colloque :

Physique

Hôte : Université de Montréal

Découvrez d'autres communications scientifiques

Dans le même colloque
Du même congressiste

Titre du colloque :

Physique

Mécanisme de la désorption par laser de l'hydrogène dans les matériaux pour la fusion thermonucléai…

Robert Boivin

Propriétés des fibres optiques monomodes effilées

Suzanne Lacroix

Interaction de configuration et double ionisation de molécules triatomiques

P. Roy

Voir tous les contenus de ce colloque

Autres communications du même congressiste :

Thème du colloque :

Physique

Montage automatisé de caractérisation de la région de charge d'espace d'une jonction métal-semi-con…

Camil Cyr