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Nouveau mode de liaison des ions Ti(IV) sur silice

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Résumé du colloque

La structure de sites actifs ou de dépôt en monocouche sur oxyde est particulièrement difficile à obtenir malgré l'intérêt fondamental à les classer et les relier aux propriétés physico-chimiques et catalytiques. L'absence de structure à longue distance et la dilution importante impose le choix de la technique de caractérisation: l'absorption des rayons-X par analyse des solides (XANES) et de la structure fine lointaine (EXAFS). Ces spectroscopies sont en première de caractériser le mode de liaison de ions Ti(IV) greffé sur silice à partir de leurs alkoxydes et de suivre l'évolution de la structure de surface en fonction de divers prétraitements thermiques sous oxygène. Les fragments [TiO4] sont liés aux unités [SiO4] de la surface par mise en commun d'un octet d'ions ou d'un sommet commun dans tous les silicates naturels ou synthétiques. Ce même type de liaison est aussi rencontré dans les silicates utilisés récemment pour l'oxydation sélective des alcanes légers en alcool et aldéhydes.

Contexte

news icon Thème du colloque :
Chimie physique et des surfaces
host icon Hôte : Université de Montréal

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Titre du colloque :

Chimie physique et des surfaces

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