Colloque

Optimisation de la séquence de tests pour la détection de panne d'un système sujet à un bris aléatoire

Laurent Giraud

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Laurent Giraud

Résumé du colloque

Dans le processus de remise en opération d'un système de production défaillant, l'étape de diagnostic est à l'origine des durées prolongées d'inactivité. Une séquence de tests permettant de connaître l'état des composants est alors à générer. Si un coût de test est associé à chacun des tests, il faut alors sélectionner la séquence optimale de tests permettant de détecter le composant responsable de la défaillance, et ce avec un coût minimal. Dans la première partie seront détaillées plusieurs procédures de génération de séquence de tests, dans le cas de tests parfaits (un test est qualifié de parfait s'il révèle avec certitude l'état du composant testé). Les paramètres utilisés seront le coût associé à chaque test et la probabilité de défaillance des composants. La seconde partie traitera du cas des tests non parfaits et des principes servant à réduire la complexité introduite par ce nouveau coefficient d'incertitude. La troisième partie indiquera les possibilités d'intégration de ces algorithmes dans les systèmes automatiques de détection de panne dans les systèmes experts de diagnostic de pannes, et permettra de conclure quant aux extensions possibles de ces algorithmes.

Contexte

Section :

Génie mécanique et industriel

Thème du colloque :

Génie mécanique et industriel

Hôte : Université de Montréal

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Titre du colloque :

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