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Plasma d'onde de surface comme source d'ions pour l'analyse élémentaire par spectrométrie de masse

Denis Boudreau
Robert Sing
Sylvain Bordeleau
Joseph Hubert
DB

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Denis Boudreau

Résumé du colloque

La spectrométrie de masse est encore peu utilisée en analyse élémentaire inorganique. Depuis une dizaine d'années, plusieurs groupes ont utilisé avec succès le plasma à couplage inductif (ICP) pour l'analyse inorganique. Cette source d'ionisation est présentement bien adaptée à l'analyse d'échantillons à matrice simple, mais présente des sévères interférences pour les solutions à matrice complexe. Les plasmas micro-ondes ont été relativement peu utilisés comme source d'ions, car les meilleurs mélanges d'enceinte de détection qui ont été obtenus pour les plasmas micro-ondes. Ces plasmas micro-ondes peuvent posséder de plus grandes densités de concentration d'électrons que l'ICP et peuvent donc être potentiellement de meilleures sources d'ionisation. Ceci est particulièrement vrai pour les plasmas micro-ondes générés par propagation d'ondes de surface. Nous présentons les résultats récents sur l'utilisation du plasma à onde de surface comme source d'ions en analyse élémentaire par spectrométrie de masse. En particulier, les caractéristiques du spectre de masse de ce plasma ont été étudiées en fonction de la fréquence de génération, de la pression et de la nature (Ar, He) du gaz plasmagène ainsi que du mode d'extraction des ions vers le spectromètre de masse.

Contexte

Section :
Chimie analytique et minérale
news icon Thème du colloque :
Chimie analytique et minérale
host icon Hôte : Université de Sherbrooke

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Titre du colloque :

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