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Quelques propriétés des systèmes d'alliage Pb1−xSnxTe et Pb1−xSnxSe

BO

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Berolo Orazio

Résumé du colloque

La technique de photographie aux rayons-x des poudres d'alliage a été employée pour déterminer la constante réticulaire et les diagrammes d'équilibre T−x des systèmes d'alliage: Pb1−xSnxTe et Pb1−xSnxSe. Ces données sont nécessaires pour la préparation des alliages en vue des mesures des paramètres des semiconducteurs. Les spécimens ont été préparés par la méthode horizontale de Bridgman et ont été utilisés pour l'analyse des spectres de réflectance dans les régions du visible et de l'ultraviolet.

Contexte

manager icon Responsables :
E. Fortin
host icon Hôte : Université d’Ottawa

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