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Relation entre D, μ et I abs. pour un échantillon sphérique, technique Debye-Scherrer

Guy Perrault
Pierre Richard
GP

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Guy Perrault

Résumé du colloque

L'intensité absolue des raies de diffraction X (technique Debye-Scherrer) pour un échantillon sphérique, en plus d'être fonction du facteur de structure, du facteur "Lorentz-Polarisation" et du facteur de multiplicité, est fonction d'un autre facteur, que nous appelerons facteur A; ce dernier facteur étant lui-même fonction de μ, Θ et D. Nous avons entrepris une étude systématique de ce facteur d'absorption afin d'en obtenir une valeur quantitative. Notre étude s'intègre à l'intérieur d'un programme de recherche sur la détermination des intensités absolues de diffraction X à partir de clichés Debye-Scherrer.

Contexte

Section :
Géologie et minéralogie
news icon Thème du colloque :
Géologie et minéralogie
host icon Hôte : Université de Montréal

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Titre du colloque :

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Relation entre D, μ et I abs. pour un échantillon sphérique, technique Debye-Scherrer
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