Colloque

Simulation des diagrammes de diffraction X sur micro-ordinateur

Bernard Masson

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Bernard Masson

Résumé du colloque

Le logiciel présenté, écrit en QuickBasic compilé, permet le calcul des intensités de diffraction X de toute substance dont on connaît la formule chimique, les facteurs de diffusion atomique des atomes la composant, son système cristallin, son réseau de Bravais, les paramètres cristallins de la maille et les coordonnées des atomes dans cette maille. On doit aussi entrer à la demande, l'anticathode utilisée. Les facteurs de diffusion atomique de tous les éléments sont entrés dans le programme sous forme analytique. Les coordonnées des atomes, une fois entrées, sont stockées dans un fichier pour utilisation ultérieure. Le programme calcule alors le facteur de structure, le facteur de multiplicité, le facteur de Lorentz-polarisation, l'angle 2θ et la distance inter-réticulaire de chaque plan exploré. Le programme teste tous les plans entre deux bornes que l'on peut fixer et fournit la liste de tous les plans diffractants classés par ordre croissant en 2θ, qui est automatiquement sauvegardée dans un fichier et qui peut être imprimée. Une représentation graphique sur écran est aussi possible entre deux angles choisis et sous forme de lignes verticales, où sont fournies 2θ. Il est aussi possible de déterminer 2θ ou 4 fois l'axe des intensités et de représenter le diagramme de droite à gauche. Ce logiciel peut servir de didacticiel pour les étudiants mais aussi être utile aux chercheurs qui peuvent s'en servir pour permettre le calcul théorique des intensités de substances pures.

Contexte

Section :

Génie des matériaux et métallurgie

Thème du colloque :

Génie des matériaux et métallurgie

Hôte : Université de Montréal

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Titre du colloque :

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