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Résumé du colloque
Jusqu'à maintenant, le pouvoir de résolution limité des appareils utilisés pour l'étude de la diffraction des électrons lents dans les plans réticulaires d'indices donnés de la surface des monocristaux n'a permis de mettre en évidence que des profils d'une largeur de l'ordre de 0.5 à 1 eV dans les courbes intensité-énergie des faisceaux diffractés. La mise au point d'un spectromètre électronique dont le pouvoir de résolution, tenant compte qu'en angle (5 meV et 0.80), dépasse de loin celui des appareils employés jusqu'à ce jour, a permis de découvrir la structure fine des courbes d'intensité en fonction de l'énergie des électrons diffractés. Elle se traduit par l'apparition de singularités dans les courbes qui correspondent à des diminutions brusques et localisées de courant de faisceau (00l). La condition d'émergence de premier faisceau non spéculaire permet de les interpréter en termes de résonances d'états de surface ou d'effets de seuil. La très faible largeur des profils des singularités observées explique pourquoi on a pu les détecter précédemment. Elles ont également dans les courbes d'intensité en fonction de l'angle d'incidence, à énergie fixe des électrons incidents.
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