pen icon Colloque
quote

Speckle: Métrologie et la Polarisation

VI

Membre a labase

Victor Isbrucker

Résumé du colloque

Il existe deux approches d'utilisation du speckle en métrologie: la photographie speckle d'une part et l'interférométrie speckle d'autre part. Les possibilités d'utilisation de ces méthodes sont extrêmement variées et permettent des mesures de haute précision dans le cas de faibles déplacements ou de vibrations d'amplitude très réduite. Nous présentons une analyse comparée de ces deux méthodes, tant théorique qu'expérimentale, en incluant des résultats expérimentaux originaux. La polarisation de la radiation joue un rôle important dans ce domaine. Nous étudions aussi les propriétés statistiques des figures de speckle impliquées en fonction de l'état de polarisation de la source de lumière cohérente utilisée, de la nature de l'objet diffusant et de la géométrie du système optique. L'influence de ces paramètres sur la corrélation de deux figures de speckle est étudiée. Nous présentons des résultats expérimentaux et les principales applications de ces résultats seront discutées.

Contexte

Section :
Physique
news icon Thème du colloque :
Physique
host icon Hôte : Université du Québec à Montréal

Découvrez d'autres communications scientifiques

news icon

Titre du colloque :

Physique

Autres communications du même congressiste :

news icon

Thème du colloque :

Physique