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Résumé de la communication
Les films minces organiques et les systèmes hybrides organiques/inorganiques sont des matériaux émergeant pour maintes applications tant en électronique qu’en optoélectronique. Bien que certains dispositifs organiques (DELs, écrans) soient actuellement commercialisés, il est surprenant que plusieurs aspects fondamentaux des couches organiques ainsi que de leurs interfaces soient en en partie et parfois en totalité incomprises. Un champ important est ainsi ouvert pour la recherche fondamentale dans lequel des méthodes d’analyse de surfaces apporteront assurément des informations clés menant à des dispositifs organiques plus performants. Les méthodes disponibles dans un spectro-microscope électronique à basse énergie (LEEM) sont particulièrement bien adaptées à l’étude nanométrique des films minces organiques, leurs interfaces ainsi que de leur dynamique de croissance. L’étude d’un système modèle, PTCDA sur Ag(111), est présentée. La microscopie in situ, à vitesse vidéo de la croissance cristalline permet des observations surprenantes comme un coefficient de collage réduit, des couches métastables et des changements dynamiques à l’intérieur d’une couche. L’observation directe des sites de nucléation en corrélation avec la morphologie du substrat est également présentée. En ouverture, une attention est apportée aux mécanismes de contraste et l’information sur les propriétés de transport électronique qui en découle comme les diagrammes de bandes et les libres parcours moyens.
Résumé du colloque
Le professeur Patrick Soukiassian (Université de Paris-Sud/Orsay; CEA Saclay) a déjà accepté de présenter une conférence plénière sur le sujet des surfaces et sur la thématique de recherche des matériaux qui donnera le coup d’envoi au colloque. Expert de réputation internationale des processus de surfaces du carbure de silicium, il est le détenteur du prix prestigieux de « nanoscience » de 2007 par l’ICFSI.
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