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Spectroscopie Raman des oxydes de hafnium et de zirconium

R. Gagnon
S. Jandl
M. Aubin
RG

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R. Gagnon

Résumé du colloque

L'oxyde de zirconium (ZrO2), en raison de sa grande stabilité thermique jusqu'à 2500°C, est un matériau couramment utilisé dans les technologies modernes. Les composés HfZr1-xO2 forment une série continue de solutions solides sur toute la gamme de compositions. La spectroscopie Raman permet de faire ressortir leurs phonons spécifiques. L'analyse de la dépendance en composition du spectre Raman de ces composés révèle des comportements rarement observés dans les cristaux mixtes en général. Bien que les énergies de phonons démontrent un comportement à un mode, il apparaît une importante non-linéarité dans l'intervalle de compositions 0.75 < x < 1, particulièrement pour les phonons de basse énergie. De plus, certaines raies Raman apparaissent dans les solutions solides avec une largeur inférieure à celle observée dans les composés purs. Cette étude devrait donner une détermination plus précise, dans le cadre d'un projet parallèle, de la composition x des cristaux de HfZr1-xO3, lesquels sont oxydés à haute température pour former HfZr1-xOx. En effet, la technique de diffraction R-x s'est avérée inadéquate en raison de la trop faible variation des paramètres de réseau moyens de ces deux séries.

Contexte

Section :
Physique
news icon Thème du colloque :
Physique
host icon Hôte : Université de Moncton

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Titre du colloque :

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