Colloque

Une formulation exacte pour la détermination expérimentale des coefficients de dispersion chromatique de Cauchy et de Sellmeier des matériaux d’absorbance arbitraire

Serge Gauvin

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Serge Gauvin

Résumé du colloque

Il existe beaucoup de méthodes permettant de déterminer l’indice de réfraction des matériaux déposés en couches minces. Typiquement, ces couches ont une épaisseur entre 1 à 100 µm. Plusieurs des méthodes actuelles tirent l’information requise de l’intensité de la lumière transmise ou réfléchie par la couche en fonction de la longueur d’onde. De plus, fréquemment, les méthodes de détermination d’indice ne tiennent pas compte de l’effet de la dispersion chromatique. Or, celle-ci est susceptible de déplacer considérablement la position des franges d’interférence. La déduction de l’indice à partir de la séparation interfrange est donc sujette à caution. Néanmoins, il est possible de tirer profit cette sensibilité à l’égard de la position spectrale afin de d’obtenir l’information pertinente sur la dispersion. Ainsi, il s’avère qu’un simple ajustement paramétrique de la position spectrale des franges d’interférence en fonction de leur ordre livre directement les coefficients de dispersion des lois de Cauchy et de Sellmeir. Formellement, par une généralisation de la fonction d’Airy, on peut traiter le cas général de la transmission d’une couche mince, d’absorbance arbitraire, intercalée entre deux substrats différents. Cette modélisation permet la prise en compte de deux contextes expérimentaux usuels : (1) une couche maintenue entre deux plaques (cristal, liquide, etc.), (2) une couche mince déposée sur un seul substrat (films polymériques, empilements de type Langmuir-Blodgett, etc.). Outre cela, nous considérons le cas d’une illumination sous incidence quelconque pour les états de polarisation de type « S » ou « P ». Ainsi, il est possible de caractériser l’éventuelle anisotropie des couches d’intérêt. Les limites, la mise en œuvre de cette méthode et quelques conseils pratiques seront aussi présentés.

Contexte

Section :

Optique guidée et photonique 6

Thème du colloque :

Optique guidée et photonique 6

Hôte : Université de Montréal

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