Veuillez choisir le dossier dans lequel vous souhaitez ajouter ce contenu :
Résumé du colloque
La mesure locale d'orientation cristallographique grâce à une nouvelle technique de diffraction électronique, permet d'observer les mécanismes mis en jeux lors de la déformation de certains matériaux. Le cas des matériaux à faible énergie de faute d'empilement (bronze, acier inoxydable austénitique) a été étudié. On a pu ainsi mettre en évidence certains des mécanismes fondamentaux contrôlant l'évolution de la microstructure de ces matériaux lors de la déformation à chaud. En particulier, la contrainte d'écoulement de ces matériaux subit d'importantes variations pendant la déformation à chaud. À haute température et basse vitesse de déformation, des oscillations de la contrainte d'écoulement sont même observées, prouvant ainsi que d'importants changements microstructuraux ont lieu au sein des matériaux. Ce phénomène observé pour la première fois il y a environ 35 ans est appelé recristallisation dynamique (RXD). Deux modèles sont généralement admis pour décrire les différents changements microstructuraux engendrés par la RXD : un pour les polycristaux et un autre pour les monocristaux. L'utilisation d'une nouvelle technique de mesure fondée sur la diffraction d'électrons rétrodiffusés, a permis d'unifier les deux modèles. Ces résultats originaux permettent d'espérer la construction d'un modèle permettant la modélisation quantitative de la RXD.
Vous devez être connecté pour ajouter un élément à vos favoris.
Veuillez vous connecter ou créer un compte pour continuer.
Outils de citation
Citer cet article :
MLA
APA
Chicago
Ajouter un dossier
Vous pouvez ajouter vos contenus préférés à des dossiers organisés. Une fois le dossier créé,
vous pouvez ajouter un article ou un contenu de la liste ou de la vue détaillée au dossier sélectionné dans la liste.