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Une nouvelle approche de la recristallisation dynamique dans les matériaux polycristallins

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Philippe Bocher

Résumé du colloque

La mesure locale d'orientation cristallographique grâce à une nouvelle technique de diffraction électronique, permet d'observer les mécanismes mis en jeux lors de la déformation de certains matériaux. Le cas des matériaux à faible énergie de faute d'empilement (bronze, acier inoxydable austénitique) a été étudié. On a pu ainsi mettre en évidence certains des mécanismes fondamentaux contrôlant l'évolution de la microstructure de ces matériaux lors de la déformation à chaud. En particulier, la contrainte d'écoulement de ces matériaux subit d'importantes variations pendant la déformation à chaud. À haute température et basse vitesse de déformation, des oscillations de la contrainte d'écoulement sont même observées, prouvant ainsi que d'importants changements microstructuraux ont lieu au sein des matériaux. Ce phénomène observé pour la première fois il y a environ 35 ans est appelé recristallisation dynamique (RXD). Deux modèles sont généralement admis pour décrire les différents changements microstructuraux engendrés par la RXD : un pour les polycristaux et un autre pour les monocristaux. L'utilisation d'une nouvelle technique de mesure fondée sur la diffraction d'électrons rétrodiffusés, a permis d'unifier les deux modèles. Ces résultats originaux permettent d'espérer la construction d'un modèle permettant la modélisation quantitative de la RXD.

Contexte

host icon Hôte : Université McGill

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