Colloque

Une platine de microscope permettant de mesurer le scattering des particules de haute énergie

John Anc-Sin

Jacques Hebert

Membre a labase

John Anc-Sin

Résumé du colloque

Les auteurs décrivent une platine de microscope employant une suspension à lames. Cette platine peut être adaptée à tout microscope dont la tête possède un mouvement vertical précis. La construction ainsi que la calibration de cet appareil sont discutées. Les résultats des mesures de scattering de particules faites à l'aide de cette platine adaptée à un microscope Leitz monoculaire sont comparés aux résultats d'autres méthodes de mesures. Les résultats obtenus pour des mesures identiques avec un microscope de marque Koristka-Fratelli, MS 2.