Peter J. Simpson

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64e Congrès de l'Acfas : Étude par spectroscopie d'annihilation de positrons du dommage créé par implantation ionique dans du SiO2

Communications de Peter J. Simpson

Étude par spectroscopie d'annihilation de positrons du dommage créé par implantation ionique dans du SiO2
P. Andrew Knights
Congrès 1996
Optique guidée et photonique 4
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