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Production de rayons X caractéristiques par impact ionique et application à l'analyse de matériaux
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La spectroscopie des rayons X faite au Laboratoire a pour but la mise au point d'une méthode efficace d'analyse de traces. Dans cette optique, nous avons mesuré les sections efficaces d'ionisation de la couche électronique K par impact de particules lourdes (16O et 32S) et avons comparé nos résultats aux prédictions théoriques. Nous avons également mesuré le bruit de fond produit par un faisceau d'ions incident sur des matrices solides de carbone de différentes épaisseurs. En supposant des traces réparties uniformément dans de telles matrices, nos mesures tendent vers une sensibilité de l'ordre de 0.1 ppm dans les cas les …

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Analyse de traces d'éléments par excitation de rayons-X au moyen de particules chargées
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Soucieux de mettre les ressources techniques de notre laboratoire à la disposition d'autres disciplines, nous y avons mis au point une méthode d'analyse de traces à la fois puissante, rapide et économique. L'irradiation de l'échantillon par un faisceau de particules chargées permet d'observer les rayons-X caractéristiques des éléments présents. On peut ainsi détecter en quelques minutes avec une sensibilité très grande (jusqu'à 10-8 partie par million) et à peu près uniforme tous les éléments plus lourds que l'aluminium. La petite quantité d'échantillon nécessaire à l'analyse rend la méthode très attrayante pour un grand nombre de disciplines.

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Analyse de traces d'éléments par excitation de rayons-X au moyen de particules chargées
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Soucieux de mettre les ressources techniques de notre laboratoire à la disposition d'autres disciplines, nous y avons mis au point une méthode d'analyse de traces à la fois puissante, rapide et économique. L'irradiation de l'échantillon par un faisceau de particules chargées permet d'observer les rayons-X caractéristiques des éléments présents. On peut ainsi détecter en quelques minutes avec une sensibilité très grande (jusqu'à 10-8 partie par million) et à peu près uniforme tous les éléments plus lourds que l'aluminium. La petite quantité d'échantillon nécessaire à l'analyse rend la méthode très attrayante pour un grand nombre de disciplines.

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Analyse de traces d'éléments par excitation de rayons-X au moyen de particules chargées
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Soucieux de mettre les ressources techniques de notre laboratoire à la disposition d'autres disciplines, nous y avons mis au point une méthode d'analyse de traces à la fois puissante, rapide et économique. L'irradiation de l'échantillon par un faisceau de particules chargées permet d'observer les rayons-X caractéristiques des éléments présents. On peut ainsi détecter en quelques minutes avec une sensibilité très grande (jusqu'à 10-8 partie par million) et à peu près uniforme tous les éléments plus lourds que l'aluminium. La petite quantité d'échantillon nécessaire à l'analyse rend la méthode très attrayante pour un grand nombre de disciplines.

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Soucieux de mettre les ressources techniques de notre laboratoire à la disposition d'autres disciplines, nous y avons mis au point une méthode d'analyse de traces à la fois puissante, rapide et économique. L'irradiation de l'échantillon par un faisceau de particules chargées permet d'observer les rayons-X caractéristiques des éléments présents. On peut ainsi détecter en quelques minutes avec une sensibilité très grande (jusqu'à 10-8 partie par million) et à peu près uniforme tous les éléments plus lourds que l'aluminium. La petite quantité d'échantillon nécessaire à l'analyse rend la méthode très attrayante pour un grand nombre de disciplines.

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