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Récemment nous avons proposé une méthode d'interférométrie holographique donnant directement et avec une sensibilité réduite les contours d'épaisseur d'objets transparents fortement aberrants. Une modification subséquente a permis d'en augmenter la versatilité grâce à un contrôle simple et continu de la sensibilité. Essentiellement, le principe de la méthode consiste à enregistrer de façon conventionnelle une double exposition sur un hologramme. Toutefois ici l'objet est placé en contact avec l'hologramme de façon à être traversé à la fois par le faisceau de référence et un faisceau sonde issu d'une large fente diffusante. Le contrôle de la sensibilité s'effectue très simplement a posteriori …