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Colloque
L'interaction des électrons avec la matière fournit de précieux renseignements dans la caractérisation de surfaces et de l'interface gaz adsorbés sur ces dernières. Parmi ces phénomènes, la diffraction d'un faisceau d'électrons provoque l'apparition d'un patron de franges de taches reliées aux propriétés de symétrie dans l'organisation des atomes substrat et de l'homogénéité des niveaux énergétiques des états de revêtement. Deux de ces techniques sont : la diffraction des électrons lents (DEL) et des électrons rapides (DER). La DER est plus particulièrement sensible aux substrats, car elle utilise les faisceaux de hautes énergies (5 à 15 keV) à incidence rasante. À …
Colloque
Depuis quelques années, dans le calcul des lentilles électrostatiques destinées à la focalisation de particules chargées, on se sert de plus en plus des propriétés raffinées des points cardinaux de ces systèmes d'optique corpusculaire. Pour en déterminer leur position relative, on se sert de différentes méthodes hybrides tant analytiques que numériques. Dans le cadre de la conception et de la mise au point d'une lentille électrostatique multi-éléments, destinée à former l'objectif et l'onde de sortie d'un spectromètre électrostatique, nous avons vérifié les points cardinaux obtenus au moyen de ces méthodes en résolvant l'équation de Laplace par la technique des réseaux …
