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Diffraction des rayons-X : structure fine
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L’étude sous fort grossissement des taches de diffraction des rayons-X a donné naissance à une nouvelle méthode de microscopie aux rayons-X. Cette méthode, développée par l’auteur en collaboration avec le Dr C. S. Barrett, permet l’observation et l’étude de certains phénomènes d’ordre atomique inobservables jusqu’à présent. Elle constitue donc un moyen d’attaque entièrement nouveau de grande utilité en métallurgie physique et en d’autres domaines. On donne une description de l’appareil et des conditions expérimentales requises. Cette méthode a permis d’étudier les changements résultant de la déformation des métaux. Ainsi, on a pu établir des données sur les lignes de glissement …

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