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Colloque
Cette présentation portera sur la caractérisation des nanomatériaux en microscopie électronique à haute résolution spatiale, tant en balayage qu’en transmission avec un microscope à effet de champs Hitachi SU-8000. Ce microscope possède 5 détecteurs d’électrons (1 upper pour les secondaires, un top pour les rétro à fort angle, un lower, un retro 5 quadrants et un detecteur d’électrons transmis) ainsi qu’un détecteur EDS SDD de rayons-x et un détecteur EBSD. CE microscope, qui à une résolution spatiale de 0.5 nm à 30 keV, est un outil de chois pour caractériser les nanomatériaux. Des exemples pour la caractérisation de fins précipités …
Colloque
L’intérêt pour les nanotubes est dû aux fascinantes propriétés de ces matériaux et à leurs applications révolutionnaires, mais le succès de ces développements dépend de leur disponibilité et de leur coût, présentement prohibitif. Nous développons un procédé de croissance de nanotubes, de fullerènes et d’oignons de carbone utilisant une torche à plasma DC de 100 kW dans laquelle nous dissocions du tétrachloroéthylène (C2Cl4) initialement vaporisé. Aspect très innovateur de notre technique, l’érosion des électrodes de tungstène de la torche crée des vapeurs métalliques en amont dans le jet qui se condensent plus loin en aval en nanoparticules. Cette méthode ne …
Colloque
Des nanotubes de carbone (NTC) sont produits par la dissociation de tétrachloroéthylène (TCE, C2Cl4) injecté dans une torche à plasma DC non-transférée de 100 kW. Le plasma est généré dans un réacteur cylindrique de 40 cm de diamètre comportant la flexibilité de l’allonger jusqu’à 1 m. Le réacteur est opéré à pression contrôlée entre 100 et 800 torr. Le plasma est formé avec soit de l’hélium s’écoulant à 225 slpm ou de l’argon, à 100 slpm. Le TCE est préliminairement vaporisé et injecté dans la tuyère de la torche à l’aide d’un gaz d’entraînement inerte (argon, hélium) s’écoulant à 20 …
Communication
Le principal obstacle à l'analyse avec un microscope électronique d'échantillons non conducteurs (comme les minéraux, les céramiques et les polymères) est le phénomène d'accumulation de charge qui se produit lorsque ces matériaux sont soumis à une irradiation d'électron. Ce phénomène affecte la mesure des électrons secondaires et donc l'aspect visuel obtenu par imagerie de l'échantillon. D'autre mesure comme les rayons-X et le courant du faisceau sont aussi modifiés. Mais pour bien comprendre ce qui se passe dans le microscope, il faut utiliser des modèles théoriques incorporants les champs électromagnétiques dans la colonne et l'échantillon. Pour simuler ces modèles, l'utilisation de …
Colloque
Les propriétés mécaniques des alliages de fonderie, constitués principalement de dendrites, sont généralement inférieures à celles des alliages qui sont corroyés après solidification. Ces faibles propriétés mécaniques sont, entre autres, reliées à la forme et la taille des dendrites. Comme la forme et la taille des dendrites peuvent être caractérisées par une dimension fractale, la détermination de la relation entre la dimension fractale des dendrites et les propriétés mécaniques des alliages de fonderie permettra éventuellement d'améliorer les propriétés mécaniques de ces matériaux. L'objectif de ce travail est de relier la dimension fractale Df des dendrites obtenues lors du refroidissement d'un …
Colloque
Dans le cadre de cet exposé, la méthode de Monte-Carlo permettant de simuler la trajectoire des électrons pour quantifier les analyses chimiques par émission de rayons X en microscopie électronique sera décrite en détail. Plus précisément, une nouvelle procédure pour quantifier chimiquement des inclusions sphériques par émission de rayons X au M.E.B. sera présentée. De plus, l'effet des électrons secondaires sur les facteurs Kα de "Cliff-Lorimer" au M.E.T. ainsi que sur la résolution spatiale sera expliqué. Finalement, des calculs de la fonction de génération des rayons X au M.E.T. seront présentés ainsi qu'une nouvelle correction d'absorption.
Colloque
Dans le cadre de cet exposé, la méthode de Monte-Carlo permettant de simuler la trajectoire des électrons pour quantifier les analyses chimiques par émission de rayons X en microscopie électronique sera décrite en détail. Plus précisément, une nouvelle procédure pour quantifier chimiquement des inclusions sphériques par émission de rayons X au M.E.B. sera présentée. De plus, l'effet des électrons secondaires sur les facteurs Kα de "Cliff-Lorimer" au M.E.T. ainsi que sur la résolution spatiale sera expliqué. Finalement, des calculs de la fonction de génération des rayons X au M.E.T. seront présentés ainsi qu'une nouvelle correction d'absorption.
Colloque
La méthode de Monte-Carlo consiste à simuler la trajectoire individuelle d'électrons dans un milieu solide et à calculer les nombres aléatoires uniformément répartis entre 0 et 1 de façon à déterminer les différents mécanismes d'interaction électrons-matière. Il est alors possible de calculer le nombre de rayons-X caractéristiques générés dans un volume semi-infini et de comparer ces nombres de rayons-X calculés avec ceux qui sont mesurés expérimentalement dans un microscope électronique en balayage (M.E.B.S.) ou dans un microscope électronique à transmission (M.E.T.). Les techniques actuelles pour convertir les intensités des rayons-X en concentrations chimiques sont pour des échantillons homogènes. Il est …
Colloque
La méthode de Monte-Carlo consiste à simuler la trajectoire individuelle d'électrons dans un milieu solide et à calculer les nombres aléatoires uniformément répartis entre 0 et 1 de façon à déterminer les différents mécanismes d'interaction électrons-matière. Il est alors possible de calculer le nombre de rayons-X caractéristiques générés dans un volume semi-infini et de comparer ces nombres de rayons-X calculés avec ceux qui sont mesurés expérimentalement dans un microscope électronique en balayage (M.E.B.S.) ou dans un microscope électronique à transmission (M.E.T.). Les techniques actuelles pour convertir les intensités des rayons-X en concentrations chimiques sont pour des échantillons homogènes. Il est …
