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Colloque
Il existe deux approches d'utilisation du speckle en métrologie: la photographie speckle d'une part et l'interférométrie speckle d'autre part. Les possibilités d'utilisation de ces méthodes sont extrêmement variées et permettent des mesures de haute précision dans le cas de faibles déplacements ou de vibrations d'amplitude très réduite. Nous présentons une analyse comparée de ces deux méthodes, tant théorique qu'expérimentale, en incluant des résultats expérimentaux originaux. La polarisation de la radiation joue un rôle important dans ce domaine. Nous étudions aussi les propriétés statistiques des figures de speckle impliquées en fonction de l'état de polarisation de la source de lumière cohérente …
