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Colloque
L'intérêt grandissant pour la localisation d'éléments légers dans les matériaux très avancés tels les matériaux résistants à hautes températures et les céramiques spécialisées a intensifié les besoins pour une microanalyse quantitative et locale de ces éléments. La microscopie électronique couplée à la spectrométrie des rayons X s'est avérée dans ce contexte un outil des plus puissants. Cependant, la quantification des éléments légers soulève beaucoup plus de problèmes que la quantification des éléments plus lourds. Tous les problèmes de détection et de quantification des rayons X de faible énergie des éléments légers ont pour effet de modifier le spectre généré, ce …
Colloque
L'intérêt grandissant pour la localisation d'éléments légers dans les matériaux très avancés tels les matériaux résistants à hautes températures et les céramiques spécialisées a intensifié les besoins pour une microanalyse quantitative et locale de ces éléments. La microscopie électronique couplée à la spectrométrie des rayons X s'est avérée dans ce contexte un outil des plus puissants. Cependant, la quantification des éléments légers soulève beaucoup plus de problèmes que la quantification des éléments plus lourds. Tous les problèmes de détection et de quantification des rayons X de faible énergie des éléments légers ont pour effet de modifier le spectre généré, ce …
