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pen icon Colloque
Détermination de quelques paramètres de l'or dans le silicium par des mesures de capacité
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Des mesures de capacité des barrières Schottky et des jonctions abruptes p-n fabriquées avec du silicium de type n dans lequel de l'or avait été diffusé à 1000°C ont été effectuées à différentes températures. Les courbes de ΔV/Δ(1/c2) vs C ont été analysées (1) en termes de l'énergie, de la constante de temps d'émission, et de la concentration du niveau accepteur de l'or. Les valeur de concentration ainsi obtenues sont comparées avec celles obtenues de l'effet Hall. (1) R.R. Senechal and J. Basinski, Bull. Am. Phys. Soc. 12,656 (1967).

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