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Les électrons de basse énergie (EBE; <10 eV) sont les plus abondantes espèces générées lors de la radiation à forte énergie dans les cellules vivantes. Ces électrons énergétiques engendrent des dommages à l’ADN tels des modifications des bases et des casseurs. Les EBEs induisent la modification des composants de l’ADN par un processus d’attachement d’électrons dissociatifs (AED) qui induisent les cassures de liaisons phosphodiester-sucre (ex. C-O) et sucre-base (ex. N-C). Pour mieux comprendre le mécanisme de dommage, nous avons effectué des expériences supplémentaires avec la thymidine et de courts oligonucléotides. Les échantillons étaient irradiés à l’état solide par un laser …