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Nouvelle approche de refroidissement mixte dédiée au système de prototypage basé sur la technologie DreamWafer
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Le besoin de créer des systèmes de prototypage rapide, reconfigurable, programmable, intelligent, et économique augmente considérablement pour les nouvelles technologies. La durée de conception d’un nouveau système électronique complexe sur carte peut prendre plusieurs mois à une équipe d’ingénieurs. D’autre part, l’utilisation des systèmes de prototypage est devenue incontournable afin d’améliorer la créativité et de réduire les obstacles d’expérimentation pour un accès rapide au marché technologique. Le système de prototypage électronique WaferBoard permet la construction rapide d’un système électronique avec une interconnexion intelligente, facile et reprogrammable entre les différents composants du système: FPGA, ASIC, mémoires etc. Le système WaferBoard est …

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Étude de séparation de modes rapides et lents d'un système de puissance
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Dans le domaine d'électronique de puissance on rencontre souvent l'association convertisseurs-machines. La formulation de ce système à multi-étages requiert souvent une très grosse matrice à cause de la complexité de certains circuits. Le processus de formulation lui-même peut être long, fastidieux et il peut en résulter une simulation lente avec un grand besoin d'espace mémoire. L'idée de base consiste à développer une méthode qui permette une transformation spécifique et la séparation d'un système en plusieurs sous-systèmes indépendants. Ces sous-systèmes représentent respectivement les modes rapides et lents du système de base. La méthode utilisée est appelée TLM. Elle a été développée …

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Étude et réalisation d'un dispositif électromagnétique pour la mesure, sans contact, de la température superficielle d'un objet métallique
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De toutes les grandeurs physiques, la température de surface est certainement l'une de celles dont la mesure est la plus fréquente. Cette information est essentielle au contrôle optimal de plusieurs procédés industriels. La mesure de température de surface des objets métalliques se fait couramment en continu avec divers types de capteurs infrarouges. Cependant, elle est soumise à différentes grandeurs d'influences comme l'émissivité de la cible, la propreté de la lentille du détecteur qui viennent influencer le résultat de mesure. Le présent projet, fait l'hypothèse que les capteurs inductifs de proximité peuvent être utilisés pour la mesure de température superficielle. Certains …

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